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Stresstech Xstress Mini X射线衍射分析仪
Stresstech Xstress Mini X射线衍射分析仪

价格: 面议

Stresstech Xstress Mini是Xstress -product系列中小的X射线衍射分析仪。Xstress Mini轻便可用于测量质量和过程控制的残余应力。 该装置易于携带,是现场测量,工厂测量或实验室测量的理想选择。
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Stresstech X射线衍射

德国物理学家W.C.发现X射线。 伦琴在1895年.X射线是比可见光波长短得多的电磁辐射,而且更有活力。 利用这些"软"x射线的额外能量,大家可以探测晶体材料中距离表面1-10微米深处的原子间距离。 假设平面应力状态,并使用原子间间距作为终的计量长度,大家就可以测量绝 对应力而无需用于校准的无应力样品。

Stresstech Xstress Mini X射线衍射分析仪

完整的X射线衍射仪现在集成在一个紧凑而便携的单元中,Stresstech Xstress Mini是Xstress -product系列中小的X射线衍射分析仪。 Xstress Mini轻便可用于测量质量和过程控制的残余应力。 该装置易于携带,是现场测量,工厂测量或实验室测量的理想选择。

快速,准确和可重复的晶体材料分析
设置简单快捷,加快您的测量过程和分析
占地面积小于笔记本电脑的盒子形状

Stresstech Xstress Mini X射线衍射分析仪

Stresstech Xstress Mini X射线衍射分析仪技术规格

两个NMOS位置敏感探测器,两个光束X射线输出。
单次:同时测量两次曝光。
χ测量模式。
Cr X射线管:MAX.输出30kV / 1.6mA / 48W
可更换的准直器,提供1-5毫米斑点尺寸。 特殊准直器可作为选件提供。
空气冷却系统。
通用电源输入110-230 V AC 50-60 Hz,电池选件
D170 x W190 x H270 mm

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